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플래시메모리 번인테스터 개발 경쟁


카테고리 : 레포트 > 기타
파일이름 :2003070.jpg
문서분량 : 1 page 등록인 : etnews
문서뷰어 : 뷰어없음 등록/수정일 : 03.07.01 / 03.07.01
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플래시메모리 번인테스터 개발 경쟁
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삼성전자 등 반도체 소자업체가 최근 휴대폰 및 디지털카메라용 플래시 메모리 생산량을 대폭 늘리자 반도체 검사장비개발업체들이 플래시 메모리의 내열성을 전문적으로 검사하는 번인(burn-in)테스터를 앞다퉈 개발하고 나서 장비 수주전이 치열해질 전망이다.
 1일 관련업계에 따르면 테스텍이 지난해 플래시 메모리용 번인테스터를 국내 최초로 개발, 삼성전자에 공급한 데 이어 디아이·프롬써어티 등 후발업체도 연내 제품을 개발해 소자업체에 공급한다는 방침이다.
 지난달 국내 최초로 웨이퍼 번인시스템과 관련한 기술특허를 취득한 프롬써어티(대표 임광빈)는 이달 중 플래시 메모리용 번인테스터 데모기 개발을 완료해 필드테스트에 들어갈 예정이며, 국내 D램 번인테스터시장의 70% 이상을 점유하고 있는 디아니(대표 최명배)도 연내 상용화를 목표로 막바지 개발작업에 한창이다.
 프롬써어티 한 관계자는 “지금까지 플래시 메모리의 생산량이 늘어난 데 반해 플래시 메모리 전용 번인테스터 개발은 더뎌 소자업체들이 D램에 사용한 번인테스터를 일부 사용하고 있는 실정”이라며 “하지만 최근 플래시 메모리 생산량이 크게 늘어난 데다 디지털카메라에 들어가는 플래시 메모리의 경우 용량이 32MB에 달할 만큼 커져 D램 번인테스터로 대응하는 데는 한계가 있다”고 지적했다.
 실제 주소·데이터 등 각종 신호를 독립된 채널로 테스트하는 D램과 달리 플래시 메모리 번인테스트는 하나의 채널을 통해 시분할 방식으로 이뤄져야 하는 등 보다 복잡한(멀티플렉서블) 기능을 요구한다는 것이 전문가들의 지적이다.표참조
 이를 반영하듯 지난해 6·7라인에 이어 올해 8라인과 12라인 일부를 플래시 메모리 생산라인으로 바꾼 삼성전자의 경우 그동안 D램 번인테스터를 업그레이드해 사용하던 것에서 탈피, 일본 JEC로부터 플래시 메모리 전용 번인테스터를 구입하고 있다.
 삼성전자는 국내 검사장비업체들이 플래시 메모리용 번인테스터를 국산화할 경우 이 장비를 적극적으로 도입할 방침인 것으로 알려졌다.
 테스텍의 한 관계자는 “플래시 메모리용 번인테스터는 하드웨어보다 소프트웨어부문에서 많은 노하우를 요구한다”며 “일본 몇몇 업체가 이 제품을 상용화했지만 아직 용량이 큰 메모리에는 완전히 대응하지 못하는 만큼 국내 업체들이 완성도 높은 제품을 개발할 경우 해외시장 공략도 가능할 것”이라고 내다봤다.  
<장지영기자 jyajang@etnews.co.kr>
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